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  • 光伏組件PID測試系統(tǒng) 查看詳細介紹

    PID測試潛在電勢誘導(dǎo)衰減,組件長期在高電壓工作,在蓋板玻璃、封裝材料、邊框之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池片表面,使得電池片表面的鈍化效果惡化,導(dǎo)致填充因子、短路電流、開路電壓降低,使組件性能低于設(shè)計標(biāo)準;PID測試目的是為驗證組件經(jīng)受高強度電壓性能變化的能力。銘電推出的PID測試系統(tǒng)滿足標(biāo)準IEC61215-2 MQT21,簡潔、高效、使用便捷靈活,極大地方便用戶進行PID的測試實驗。

    更新時間:2024-09-11

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    產(chǎn)品型號:TSD-PID-P4

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